Advantage™ 광학 신연계측기 (AOX)

정밀한 성능

MTS Advantage 광학 신연계측기는 최신 광학 및 알고리즘 측정 기술을 결합하여 단축 시험에 필요한 고해상도, 데이터 속도 및 정확성을 제공합니다.

해상도

신연계측기 정확도 등급

ISO 9513 Class 0.5 및 ASTM E83 Class B-1 이상, 전형적으로 게이지 길이 ≥10 mm

실시간 데이터 속도: 300-3000 Hz

그 결과, MTS Advantage 광학 신연계측기는 저탄성 및 고탄성 재료 모두에 대해 탄성 계수, 오프셋 항복점, 응력-변형률 곡선 및 파단 시 변형률을 측정하는 데 필요한 정확도와 세밀한 해상도를 갖추고 있습니다.

복합재, 금속 및 세라믹의 변형률 측정

MTS AOX 모델은 텔레센트릭 렌즈를 사용하여 금속, 복합재, 세라믹 및 CMC와 같은 고탄성 재료 시험에 필요한 정확도와 세밀한 해상도를 제공하도록 설계되었습니다:

• 이들 모든 재료에 대해 탄성 계수, 오프셋 항복점, 응력-변형률 곡선 및 파단 시 변형률을 측정할 수 있습니다
• 일반적인 해상도는 준정적에서 <0.5 μm, 동적에서 <2.5 μm, 크리프에서 <0.1 μm이며, 일반 설정에서의 전형적인 RMS 해상도입니다. 해상도는 광학 및 필터 설정에 따라 달라집니다.
• 신연계측기 정확도 등급: ISO 9513 Class 0.5 및 ASTM E83 Class B-1 이상, 전형적으로 게이지 길이 ≥10 mm
• 이 응용 분야에는 선택된 필터 설정과 견고하며 정렬이 잘 된 그립 사용을 권장합니다.

플라스틱 및 엘라스토머의 변형률 측정

MTS AOX-500CE 광학 옵션은 1000% 이상의 변형률을 측정할 수 있습니다 (500 mm 시야와 10 또는 25 mm 게이지 길이):

• 광학 장치와 데이터 처리 알고리즘은 시편의 신장으로 인해 대비가 감소하더라도 시편 마커를 추적할 수 있도록 보장합니다
• 전통적인 엔토센트릭 렌즈 – 고신율 시험 및 약 2% 이상의 변형률 측정에 권장되며, 일부 응용에서는 소규모 변형률 측정에도 적합합니다

박막, 와이어 및 폴리머 필름의 변형률 측정

비접촉식 변형률 측정은 섬세하고 가늘며 얇은 시편의 변형률을 측정하는 가장 좋은 방법이자 때로는 유일한 방법입니다. AOX 신연계측기를 사용하여 와이어, 금속 박막, 폴리머 필름, 고탄성 섬유 및 폴리머 필라멘트의 탄성 계수, 오프셋 항복점, 응력-변형률 곡선 및 파단 신율을 측정할 수 있습니다:

• 시편의 전체 신율에 따라 MTS AOX-200CE는 10-180 mm 범위의 게이지 길이를 수용할 수 있습니다
• 초고해상도 카메라, 최대 3000 Hz의 실시간 데이터 속도 및 신호 처리 기술을 통해 낮은 노이즈로 높은 변형률 해상도와 정확성을 제공합니다.

시편 마킹은 간단하고 빠릅니다. 모든 광학 패키지에 템플릿 및 페인트 펜이 포함되어 있습니다.