Advantage Video Extensometer(AVX)
Advantage Video Extensometer(AVX)는 기존 수단을 사용하여 변형률을 측정하기 어려운 응용 분야에 필요한 유연성, 정확성 및 반복성을 제공합니다. 이 비디오 신율계는 여러 기능을 결합하여 플라스틱, 금속 및 복합재의 축 방향 및 횡 방향 변형을 측정하는데 탁월합니다.
응용 분야
- 압축
- 장력
- 플렉스/굽힘
- 고온
테스트 시편
- 금속
- 복합재
- 폴리머
테스트 표준
- ASTM D3039
- ASTM A48-A48M
- ASTM D3518
- ASTM D412
- ASTM D6272
- ASTM D638
- ASTM D695
- ASTM D7264
- ASTM D790
- ASTM D882
- ASTM E21
- ASTM E517
- ASTM E646
- ASTM E8-E8M
- ASTM E9
- ISO 10113
- ISO 10275
- ISO 14125
- ISO 6892-1
- ISO 6892-2
- ISO 14129
- ISO 178
- ISO 527-2
- ISO 527-3
- ISO 527-4
- ISO 527-5
- ISO 604
- EN 2561
- EN 2562
- EN 2597
- EN 2746
- EN 6031
주요 제품 특징
뛰어난 정확도
최대 0.05μm 해상도
빠른 설치
빠른 부착, 사전 정의된 게이지 길이 측정 헤드
혁신적인 비디오 캡처
비접촉식 측정을 위한 전례없는 속도, 정확성 및 유연성을 제공합니다.
사용하기 쉬운 소프트웨어
소프트웨어 보정 검증 마법사
전체 제품 정보
유연하고 효율적이며 반복 가능한 비접촉식 변형 측정이 가능합니다.
Advantage™ 비디오 신율계는 비접촉식 변형 측정에 대한 확신을 제공합니다. 인체공학적 설계는 정밀하고 반복 가능한 비디오 캡처를 위한 자기 복귀 지원 암을 통합하고 보정 검증 절차를 통해 지속적이고 추적 가능한 데이터 정확도를 보장합니다.
강력한 카메라, 프로세서 및 소프트웨어에 의해 구동되는 MTS Advantage 비디오 신율계(AVX)는 비접촉식 측정을 위한 전례없는 속도, 정확성 및 유연성을 제공합니다. 이 신율계는 시편의 패턴을 인식해 측정 데이터를 획득한 다음 MTS TestSuite™ TW 소프트웨어에서 처리하여 시편 변형 및 계수를 계산합니다.
게이지 길이가 미리 정의된 16개의 서로 다른 빠른 부착, 교체 가능한 측정 헤드 중에서 선택하십시오. 테스트 요구에 맞는 게이지 길이와 변형 범위를 선택하고 해당 재료 테스트 측정 헤드를 사용하여 탄성계수, 포아송비를 정확하게 측정하거나 R-값을 선택하십시오. 고신율 재료는 범용 측정 헤드를 사용하여 측정할 수 있습니다.
AVX의 자기 복귀 지지 암은 챔버 또는 테스트 영역 인클로저를 사용할 경우 시편에 접근하는 데 방해가 되지 않도록 옆쪽으로 이동합니다. 또한 비디오 신율계는 모든 기계 테스트 시스템에 쉽게 장착할 수 있으며 LED 조명이 측정 헤드에 통합되어 있습니다.
- 시편에 쉽게 접근하고 정확한 위치를 잡을 수 있게 해 주는 자기 복귀 지지 암이 있습니다.
- 다양한 게이지 길이 및 변형 범위를 지원하는 16개의 빠른 부착 측정 헤드를 제공합니다.
- 원하는 ASTM E83 또는 ISO 9513 등급으로의 설정을 확인하기 위한 보정 검증 블록 및 소프트웨어 보정 마법사를 제공합니다.
- 하중 프레임의 왼쪽, 오른쪽, 전면 또는 후면 장착 옵션이 제공됩니다.
측정 헤드 사양
XT-100 시리즈 측정 헤드
AVX |
최대 축방향 인장 |
|
|
최대 축방향 압축 |
|
최대 |
일반 신장 |
최소 시편 |
|
최대 |
||||||||
측정 |
변형 범위(%) |
|
|
변형 범위(%)(지정) |
|
횡방향 게이지 |
해상도 |
측정 너비 |
추적 속도 |
|||||||||
헤드 |
지정 게이지 길이(mm)1 |
|
게이지 범위(%)1 |
|
|
길이(mm)² |
(µm)³ |
(mm)4 |
|
(mm/min)² |
||||||||
|
10 |
25 |
50 |
100 |
200 |
10 |
25 |
50 |
100 |
200 |
|
|
축방향 |
횡방향 |
|
|||
XT-101 |
350 |
100 |
- |
- |
- |
80 |
80 |
50 |
- |
- |
14 |
0,2 |
1,5 |
4 |
1500 |
|||
XT-102 |
600 |
200 |
60 |
- |
- |
80 |
80 |
80 |
- |
- |
22 |
0,3 |
2,3 |
6,4 |
2500 |
|||
XT-103 |
900 |
320 |
120 |
30 |
- |
- |
80 |
80 |
80 |
- |
32 |
0,4 |
3,4 |
9,4 |
4000 |
|||
XT-104 |
1000 |
490 |
210 |
70 |
- |
- |
80 |
80 |
80 |
- |
46 |
0,6 |
4,8 |
13 |
5500 |
|||
XT-105 |
- |
800 |
370 |
150 |
40 |
- |
- |
80 |
80 |
80 |
74 |
1 |
7,6 |
21 |
9000 |
|||
1. 변형 범위는 게이지가 중앙에 위치한 상태에서 그립 사이의 거리가 GL의 두 배라고 가정합니다. 실제 변형 |
|
|
|
|
|
|||||||||||||
범위는 게이지 위치, 그립 분리 및 시편 거동에 따라 이 값보다 크거나 작을 수 있습니다. |
|
|
|
|
||||||||||||||
2. 최대 횡방향 GL 및 추적 속도는 100Hz의 측정 속도로 표시됩니다. |
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|
|
|
|
|
|
|
||||||||||
3. 해상도는 일반 실험실 성능을 기반으로 합니다. |
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|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||
4. Class B-1의 경우 횡방향 게이지 길이의 최소 시편 너비가 65% 증가해야 합니다. |
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|
|
|
|
|
|
XT-200 시리즈 측정 헤드
AVX |
최대 축방향 인장 |
|
|
최대 축방향 압축 |
|
최대 |
일반 신장 |
최소 시편 |
|
최대 |
|||||
측정 |
변형 범위(%) |
|
|
변형 범위(%)(지정) |
|
횡방향 게이지 |
해상도 |
측정 너비 |
추적 속도 |
||||||
헤드 |
지정 게이지 길이(mm)1 |
|
게이지 범위(%)1 |
|
|
길이(mm)² |
(µm)³ |
(mm) |
|
(mm/min)² |
|||||
|
|
10 |
25 |
50 |
|
|
10 |
25 |
50 |
|
|
|
축방향 |
횡방향 |
|
XT-204 |
|
300 |
80 |
5 |
|
|
80 |
80 |
25 |
|
45 |
0,13 |
1 |
4,6 |
150 |
XT-205 |
|
460 |
145 |
40 |
|
|
80 |
80 |
80 |
|
63 |
0,18 |
1,4 |
6,4 |
250 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
XT-254 |
|
390 |
120 |
25 |
|
|
80 |
80 |
80 |
|
15 |
0,2 |
1,6 |
7,3 |
1900 |
XT-255 |
|
580 |
190 |
65 |
|
|
80 |
80 |
80 |
|
21 |
0,28 |
2,2 |
10,3 |
2600 |
1. 지정된 변형 범위는 게이지가 중앙에 위치한 상태에서 그립 사이의 거리가 GL의 두 배라고 가정합니다. 실제 변형 |
|
|
|
|
|||||||||||
범위는 게이지 위치, 그립 분리 및 시편 거동에 따라 이 값보다 크거나 작을 수 있습니다. |
|
|
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|
|||||||||||
2. 최대 횡방향 GL 및 추적 속도는 15Hz(XT-20x 시리즈) 및 100Hz(XT-25x 시리즈)의 측정 속도로 표시됩니다. |
|
|
|
|
|||||||||||
3. 해상도는 일반 실험실 성능을 기반으로 합니다. |
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최대한 활용하는 투자 가치
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