DCPD를 이용한 균열 측정
이 온디맨드 웨비나에서는 직류 전위차법(DCPD)을 활용한 시험 솔루션을 자세히 소개합니다. 고온, 부식성 환경 또는 기타 복잡한 시험 환경에서 DCPD는 피로 균열 성장 데이터를 효과적으로 수집할 수 있는 방법입니다. 피로 균열 성장 측정 시 발생하는 일반적인 과제와 DCPD 솔루션을 통해 필요한 데이터를 확보하는 방법을 알아보세요.- 균열 측정에 DCPD를 언제, 왜 사용해야 하는지 알아보십시오
- 일반적인 DCPD 구성에 대해 이해하십시오
- MTS 전문가들의 실제 시험 인사이트를 들어보십시오
글렌 루카칙 박사는 MTS 응용 엔지니어로, R&D 시험 분야에서 20년의 경력을 보유하고 있으며, 이 중 11년은 MTS Systems Corporation에서 근무했습니다. 그는 로드셀 및 익스텐소미터용 트랜스듀서 개발과 관련된 여러 특허 및 혁신을 담당했으며, 고온, 극저온 및 가혹한 환경에서의 피로 및 파괴 응용을 위한 재료 시험 솔루션 개발에도 기여했습니다.
윤밍 후 박사는 MTS 시스템 통합 엔지니어로, 시험 실험실 운영, 피로 및 파괴 시험, 금속학 시험, 기계 시험 시스템 통합 분야에서 30년 이상의 경력을 보유하고 있습니다. 그는 MTS에서.